热电堆红外探测器
- 产品型号：
- 更新时间：2024-04-19
- 产品介绍：热电堆红外探测器 每个热电堆探测器的基座由所谓的热电偶形成。 由于两种不同金属（塞贝克效应）的热扩散电流，它会产生一个电压。
- 厂商性质：代理商
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产品介绍
| 品牌 | Micro-Hybrid | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 组件类别 | 光学元件 | 应用领域 | 医疗卫生,化工,电子,航天,综合 |
热电堆红外探测器
每个热电堆探测器的基座由所谓的热电偶形成。 由于两种不同金属（塞贝克效应）的热扩散电流，它会产生一个电压。
应用:
远距离温度测试
“应用是由客户设备的设计来定义的。我们的产品组合提供准时和整体测量的产品。"
（Micro-Hybrid有限公司研发部主管Steffen Biermann）
工艺和产品温度是制造工艺的重要物理指标。 监测温度确保生产线的高质量水平。 远程温度测量非常适用于大距离，移动部件或适用于各种工业领域的高温应用。
优点：
响应时间短
无反应测量，对测量对象无影响
没有破坏
连续实时监控温度临界时间
热电堆红外探测器
我们在-20°C190°C的外壳温度范围内提供不同测量要求的传感器类型。 我们的探测器适用于高温测量的大多数应用领域。
应用 | 产品 |
准时的温度测量 | TS1 × 80B-A-D0.48-1-Kr-B1 |
积分温度测量 | TS1 × 200B-A-D3.55-1-Kr-A1 |
高温环境下的温度测量 | TS1 × 80B-A-D0.48-1-Kr-B1-190 |
NDIR红外气体分析
Micro-Hybrid提供NDIR气体分析的完整产品系列。 即使是恶劣的环境也不会阻碍我们的客户升级自己的应用。
优点：
快速，可重复，长期稳定地测定各种红外活性气体的浓度
高精度和高分辨率的限制
在低漂移下的使用寿命长，无化学反应
高温能力（190°C）
测量稳定性高，即使在恶劣的环境下
NDIR气体分析方案
确保和监测过程稳定性的气体浓度的测量，在涉及气体的所有工业过程中是关重要的。 气体浓度的准确和可再现的检测是应用的重要组成部分，特别是在医疗和环境技术中。 此外，NDIR（非分散红外）气体分析可以在私人或工业领域进行宽带或高度选择性的有害物质检测，例如监测和检测爆炸性气体和污染物。
它是测量这种气体浓度的光学分析工具。 关于与红外活性气体的光学相互作用，NDIR分析是一个快速而有效的过程。
NDIR气体测量的应用领域：
根据不同的功能原理和我们的元件组合，我们会结合适合您的测量任务对应气体传感器解决方案。 您可以从我们的产品查找器中订购单个产品样品或直接的NDIR气体分析专家。
气体传感器
CO2 气体传感器 | 甲烷气体传感器 |
耐190°C高温 | 耐190°C高温 |
红外光源
JSIR 350-4 | JSIR 350-5 | JSIR 450 |
高频率 | 超高频率的 | "超高的辐射强度 |
热电堆探测器
TS 80 | TS 200 |
高温应用 | 高灵敏度手持设备 |
热释电探测器
电流模式 | 电压模式 |
*的灵敏度 | 电压模式低频率 |
特征：
使用BiSb / Sb等佳材料获得良好的热电堆效应：
世界上棒的探测灵敏度*
灵敏度高达295 V / W
Micro-Hybrid相关产品使用，其*性高于其他红外光源探测器产品组合
*高7.2 x 108 cm Hz1 / 2 / W
结构概况
用于高温应用的热电堆探测器
在高温环境下对机器和过程进行温度监测是一个的挑战。 我们的高温热电堆探测器*符合各种工业应用中的高温等特殊要求。
特征：
应用环境温度可高达190°C
焊接滤波片（可选）
高灵敏度
耐高湿
适合化学分析过程
抵御侵蚀性气体如甲烷，二氧化硫等
用于不同的温度范围和测量任务的热释电传感器可以在这里找到：
信号作为测量对象温度的函数
测量物体温度变化时的信号II
通过改变环境温度来修改信号
修改
我们的热电堆传感器可以在我们广泛的可应用范围内进行调节：传感器芯片，红外滤波片等。 通过这种方式，可以在各种应用条件下始终获得佳的测量结果。
产品选择
TS1x200B-A-D3.55
单通道热电堆探测器
基于MEMS技术的用于NDIR气体分析的高敏感热电堆探测器。
灵敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz½/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm²]: | 3.55 dia |
工作温度[°C] | -20 … +70 |
封装模式 | TO39 |
应用 | NDIR气体分析 |
通道数 | 1 |
TS1x200B-B-D2.4
单通道热电堆探测器
基于MEMS技术的用于NDIR气体分析的高度敏感的热电堆探测器。
灵敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz½/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm²]: | 2.4 dia |
工作温度[°C] | -20 … +70 |
封装模式 | TO46 |
应用 | NDIR气体分析 |
通道数 | 1 |
TS1x80B-A-D0.48
单通道热电堆探测器
基于MEMS技术的拥有较小有效区域的热电堆探测器;推荐用于使用带通滤波器的温度测量。
灵敏度[V / W] | 295 |
D* [cmHz½/W] | 7.2x10^8 |
光圈[mm²]: | 0.48 dia |
工作温度[°C] | -20 … +85 |
封装模式 | TO39 |
应用 | 温度测量 |
通道数 | 1 |
TS1x80B-A-D0.75
单通道热电堆探测器
基于MEMS技术的具有较小有效区域的热电堆探测器;推荐用于带有带通滤波器(8-14µm)的温度测量。
灵敏度[V / W] | 295 |
D* [cmHz½/W] | 7.2x10^8 |
光圈[mm²]: | 0.75 dia |
工作温度[°C] | -20 … +85 |
封装模式 | TO39 |
应用 | 温度测量 |
通道数 | 1 |
TS1x80B-A-D0.75-…-180
单通道热电堆探测器
基于MEMS技术的具有较小有效区域的热电堆探测器; 推荐用于在高温环境下使用带通滤波器（8-14 Lm）进行温度测量。
灵敏度[V / W] | 295 |
热电堆探测器 | D* [cmHz½/W] |
D* [cmHz½/W] | 7.2x10^8 |
热电堆探测器 | 光圈[mm²]: |
光圈[mm²]: | 0.75 dia |
热电堆探测器 | 工作温度[°C] |
工作温度[°C] | -20 … +180 |
封装模式 | TO39 |
热电堆探测器 | 应用 |
应用 | 温度测量 |
热电堆探测器 | 通道数 |
通道数 | 1 |
TS2x200B-A-S1.5
双通道热电堆探测器
用于NDIR气体分析的基于MEMS技术的带有窄带滤光片的高灵敏度热电堆双探测器。
灵敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz½/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm²]: | 1.5 x 1.5 |
工作温度[°C] | -20 … +70 |
封装模式 | TO39 |
应用 | NDIR气体分析 |
通道数 | 2 |
TS4x200B-A-S1.5
四通道热电堆探测器
用于NDIR气体分析的基于MEMS技术的带有窄带滤波器的四通道热电堆探测器。
灵敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz½/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm²]: | 1.5 x 1.5 |
工作温度[°C] | -20 … +70 |
封装模式 | TO39 |
应用 | NDIR气体分析 |
通道数 | 4 |
TS4xQ200B-A-S1.5
四通道热电堆探测器
基于薄膜技术的高灵敏度四通道热电堆检测器，带窄带过滤器，用于气体分析。
通过“单芯片"解决方案对接电气和物理通道参数。
灵敏度[V / W] | 80 |
D* [cmHz½/W] | 2.95x10^8 |
光圈[mm²]: | 1.5 x 1.5 |
工作温度[°C] | -20 … +70 |
封装模式 | TO39 |
应用 | NDIR气体分析 |
通道数 | 4 |
